Learning with Complementary Labels Revisited: The Selected-Completely-at-Random Setting Is More Practical

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Wang, Wei, Ishida, Takashi, Zhang, Yu-Jie, Niu, Gang, Sugiyama, Masashi
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2311.15502