Facilitating Atom Probe Tomography of 2D MXene Films by In Situ Sputtering

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Krämer, Mathias, Favelukis, Bar, Sokol, Maxim, Rosen, Brian A., Eliaz, Noam, Kim, Se-Ho, Gault, Baptiste
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2023
Schlagworte:	Materials Science Applied Physics
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https://arxiv.org/abs/2311.18688