Test-negative designs with various reasons for testing: statistical bias and solution

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Yu, Mengxin, Liu, Tom Hongyi, Li, Kendrick Qijun, Jewell, Nicholas, Tchetgen, Eric Tchetgen, Small, Dylan, Shi, Xu, Wang, Bingkai
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Methodology
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2312.03967