Test-negative designs with various reasons for testing: statistical bias and solution

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Yu, Mengxin, Liu, Tom Hongyi, Li, Kendrick Qijun, Jewell, Nicholas, Tchetgen, Eric Tchetgen, Small, Dylan, Shi, Xu, Wang, Bingkai
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2023
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!