Test-negative designs with various reasons for testing: statistical bias and solution

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Yu, Mengxin, Liu, Tom Hongyi, Li, Kendrick Qijun, Jewell, Nicholas, Tchetgen, Eric Tchetgen, Small, Dylan, Shi, Xu, Wang, Bingkai
Format:	Preprint
Publié:	2023
Sujets:	Methodology
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2312.03967