An Incremental Unified Framework for Small Defect Inspection

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Tang, Jiaqi, Lu, Hao, Xu, Xiaogang, Wu, Ruizheng, Hu, Sixing, Zhang, Tong, Cheng, Tsz Wa, Ge, Ming, Chen, Ying-Cong, Tsung, Fugee
Formato:	Preprint
Publicado:	2023
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2312.08917