Efficient Test Data Generation for MC/DC with OCL and Search

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Sartaj, Hassan, Iqbal, Muhammad Zohaib, Jilani, Atif Aftab Ahmed, Khan, Muhammad Uzair
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Software Engineering Artificial Intelligence
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2401.03469