Operation Scheme Optimizations to Achieve Ultra-high Endurance (1010) in Flash Memory with Robust Reliabilities

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Feng, Yang, Sun, Zhaohui, Wang, Chengcheng, Guo, Xinyi, Mei, Junyao, Qi, Yueran, Liu, Jing, Zhang, Junyu, Wu, Jixuan, Zhan, Xuepeng, Chen, Jiezhi
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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