Wide-range resistivity characterization of semiconductors with terahertz time-domain spectroscopy

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Hennig, Joshua, Klier, Jens, Duran, Stefan, Hsu, Kuei-Shen, Beyer, Jan, Röder, Christian, Beyer, Franziska C., Schüler, Nadine, Vieweg, Nico, Dutzi, Katja, von Freymann, Georg, Molter, Daniel
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Optics
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https://arxiv.org/abs/2401.12787