Resilient Practical Test-Time Adaptation: Soft Batch Normalization Alignment and Entropy-driven Memory Bank

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Zhou, Xingzhi, Tian, Zhiliang, Cheung, Ka Chun, See, Simon, Zhang, Nevin L.
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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