Overcoming the Pitfalls of Vision-Language Model Finetuning for OOD Generalization

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Zang, Yuhang, Goh, Hanlin, Susskind, Josh, Huang, Chen
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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https://arxiv.org/abs/2401.15914