Consistent algorithms for multi-label classification with macro-at-$k$ metrics

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Schultheis, Erik, Kotłowski, Wojciech, Wydmuch, Marek, Babbar, Rohit, Borman, Strom, Dembczyński, Krzysztof
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2401.16594