First test beam measurement of the 4D resolution of an RSD 450 microns pitch pixel matrix connected to a FAST2 ASIC

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Menzio, L., Siviero, F., Arcidiacono, R., Cartiglia, N., Costa, M., Croci, T., Ferrero, M., Hanna, C., Lanteri, L., Mazza, S., Mulargiaa, R., Sadrozinski, H-F W., Seiden, A., Sola, V., Whitea, R., Wilder, M.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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