Scanning tunnelling microscopy and X-ray photoemission studies of NdNiO2 infinite-layer nickelates films

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Rath, Martando, Chen, Yu, Krieger, Guillaume, Sahib, H., Preziosi, Daniele, Salluzzo, Marco
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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