A method to observe field-region oxide charge and inter-electrode isolation from $CV$-characteristics of $n$-on-$p$ devices

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Abdilov, T., Akchurin, N., Carty, C., Kazhykarim, Y., Kuryatkov, V., Peltola, T., Wade, A.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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