Exploring RIS Coverage Enhancement in Factories: From Ray-Based Modeling to Use-Case Analysis

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Bhatia, Gurjot Singh, Corre, Yoann, Tenoux, Thierry, Di Renzo, M.
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Signal Processing
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2402.10386