Standardization of chemically selective atomic force microscopy for metal-oxide surfaces

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Wiesener, Philipp, Förster, Stefan, Merkel, Milena, Lammers, Bertram Schulze, Fuchs, Harald, Amirjalayer, Saeed, Mönig, Harry
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2402.11045