Measurement of the thermal accommodation coefficient of helium on a crystalline silicon surface at low-temperatures

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Franke, Alexander, Sültmann, Nils, Reinhardt, Christoph, Croatto, Sandy, Schaffran, Jörn, Masalehdan, Hossein, Lindner, Axel, Schnabel, Roman
Formato: Preprint
Publicado: 2024
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!