Acceptor-induced bulk dielectric loss in superconducting circuits on silicon

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Zhang, Zi-Huai, Godeneli, Kadircan, He, Justin, Odeh, Mutasem, Zhou, Haoxin, Meesala, Srujan, Sipahigil, Alp
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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