Rethinking The Uniformity Metric in Self-Supervised Learning

Fuente: arXiv

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Fang, Xianghong, Li, Jian, Sun, Qiang, Wang, Benyou
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Machine Learning Artificial Intelligence Computer Vision and Pattern Recognition
Accès en ligne:	Acceder al recurso
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Internet

https://arxiv.org/abs/2403.00642