Wafer-scale uniformity improvement of Dolan-bridge Josephson junction by shadow evaporation bias correction

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Moskaleva, Daria A., Korshakov, Nikita D., Moskalev, Dmitry O., Solovyova, Anastasiya A., Matanin, Alexey R., Malevannaya, Elizaveta I., Smirnov, Nikita S., Teleganov, Maksim I., Panfilov, Yuri V., Rodionov, Ilya A.
Formato: Preprint
Publicado: 2024
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares