Direct visualization of defect-controlled diffusion in van der Waals gaps

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Thomsen, Joachim Dahl, Wang, Yaxian, Flyvbjerg, Henrik, Park, Eugene, Watanabe, Kenji, Taniguchi, Takashi, Narang, Prineha, Ross, Frances M.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2403.02494