Depth resolution in piezoresponse force microscopy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Roeper, Matthias, Seddon, Samuel Dominic, Amber, Zeeshan H., Rüsing, Michael, Eng, Lukas M.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2403.02797