Johnson-noise-limited cancellation-free microwave impedance microscopy with monolithic silicon cantilever probes

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Shan, Jun-Yi, Morrison, Nathaniel, Chen, Su-Di, Wang, Feng, Ma, Eric Y.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Mesoscale and Nanoscale Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2403.03423