Simulating Charged Defects at Database Scale

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Shen, Jimmy-Xuan, Voss, Lars F., Varley, Joel Basile
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2403.05689