ES-FUZZ: Improving the Coverage of Firmware Fuzzing with Stateful and Adaptable MMIO Models

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Huang, Wei-Lun, Shin, Kang G.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Cryptography and Security
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2403.06281