SAMDA: Leveraging SAM on Few-Shot Domain Adaptation for Electronic Microscopy Segmentation

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Wang, Yiran, Xiao, Li
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Image and Video Processing Computer Vision and Pattern Recognition Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2403.07951