Unifying frequency metrology across microwave, optical, and free-electron domains

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yang, Yujia, Cattaneo, Paolo, Raja, Arslan S., Weaver, Bruce, Wang, Rui Ning, Sapozhnik, Alexey, Carbone, Fabrizio, LaGrange, Thomas, Kippenberg, Tobias J.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Optics Applied Physics
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https://arxiv.org/abs/2403.10486