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Sensing beyond the exceptional point for high detectivity

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Li, Zhichao, Prasad, Ciril S., Wang, Xielin, Zhang, Ding, Naik, Gururaj V.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Optics Applied Physics
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