Carrier confinement and alloy disorder exacerbate Auger-Meitner recombination in AlGaN ultraviolet light-emitting diodes

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Pant, Nick, Bushick, Kyle, McAllister, Andrew, Lee, Woncheol, Van de Walle, Chris G., Kioupakis, Emmanouil
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Materials Science Disordered Systems and Neural Networks Mesoscale and Nanoscale Physics Applied Physics
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