Theoretical investigation of the vertical dielectric screening dependence on defects for few-layered van der Waals materials

Fuente: arXiv
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Autori principali: Singh, Amit, Lee, Seunghan, Bae, Hyeonhu, Koo, Jahyun, Yang, Li, Lee, Hoonkyung
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2024
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