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Determination of a Small Elliptical Anomaly in Electrical Impedance Tomography using Minimal Measurements

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Chen, Gaoming, Santosa, Fadil, Titi, Aseel
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Numerical Analysis 35R25, 35R30, 62F15, 62K05
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