OCR is All you need: Importing Multi-Modality into Image-based Defect Detection System

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hsu, Chih-Chung, Lee, Chia-Ming, Sun, Chun-Hung, Wu, Kuang-Ming
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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