Exploit High-Dimensional RIS Information to Localization: What Is the Impact of Faulty Element?

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Wu, Tuo, Pan, Cunhua, Zhi, Kangda, Ren, Hong, Elkashlan, Maged, Wang, Cheng-Xiang, Schober, Robert, You, Xiaohu
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
Schlagworte:
Online-Zugang:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Ähnliche Einträge