Bayesian Exploration of Pre-trained Models for Low-shot Image Classification

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Miao, Yibo, Lei, Yu, Zhou, Feng, Deng, Zhijie
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2404.00312