Even-Odd Layer-Dependent Exchange Bias Effect in MnBi2Te4 Chern Insulator Devices

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Chen, Bo, Liu, Xiaoda, Li, Yu-Hang, Tay, Han, Taniguchi, Takashi, Watanabe, Kenji, Chan, Moses. H. W., Yan, Jiaqiang, Song, Fengqi, Cheng, Ran, Chang, Cui-Zu
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Materials Science Mesoscale and Nanoscale Physics
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https://arxiv.org/abs/2404.03032