Unveiling the nanomorphology of HfN thin films by ultrafast reciprocal space mapping

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Zeuschner, Steffen Peer, Pudell, Jan-Etienne, Mattern, Maximilian, Rössle, Matthias, Herzog, Marc, Baldi, Andrea, Askes, Sven H. C., Bargheer, Matias
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2404.05398