SAM-I-Am: Semantic Boosting for Zero-shot Atomic-Scale Electron Micrograph Segmentation

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Abebe, Waqwoya, Strube, Jan, Guo, Luanzheng, Tallent, Nathan R., Bel, Oceane, Spurgeon, Steven, Doty, Christina, Jannesari, Ali
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Materials Science Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2404.06638