Contrastive-Based Deep Embeddings for Label Noise-Resilient Histopathology Image Classification

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Dedieu, Lucas, Nerrienet, Nicolas, Nivaggioli, Adrien, Simmat, Clara, Clavel, Marceau, Gauthier, Arnaud, Sockeel, Stéphane, Peyret, Rémy
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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https://arxiv.org/abs/2404.07605