LLM-Powered Test Case Generation for Detecting Bugs in Plausible Programs

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Liu, Kaibo, Chen, Zhenpeng, Liu, Yiyang, Zhang, Jie M., Harman, Mark, Han, Yudong, Ma, Yun, Dong, Yihong, Li, Ge, Huang, Gang
Format: Preprint
Publié: 2024
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