AI-equipped scanning probe microscopy for autonomous site-specific atomic-level characterization at room temperature

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Diao, Zhuo, Ueda, Keiichi, Hou, Linfeng, Li, Fengxuan, Yamashita, Hayato, Abe, Masayuki
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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