Enhancing AI Diagnostics: Autonomous Lesion Masking via Semi-Supervised Deep Learning

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Wei, Ting-Ruen, Hell, Michele, Le, Dang Bich Thuy, Vierra, Aren, Pang, Ran, Patel, Mahesh, Kang, Young, Yan, Yuling
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2404.12450