Sum of Group Error Differences: A Critical Examination of Bias Evaluation in Biometric Verification and a Dual-Metric Measure

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Elobaid, Alaa, Ramoly, Nathan, Younes, Lara, Papadopoulos, Symeon, Ntoutsi, Eirini, Kompatsiaris, Ioannis
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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