Sum of Group Error Differences: A Critical Examination of Bias Evaluation in Biometric Verification and a Dual-Metric Measure

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Elobaid, Alaa, Ramoly, Nathan, Younes, Lara, Papadopoulos, Symeon, Ntoutsi, Eirini, Kompatsiaris, Ioannis
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Computers and Society
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https://arxiv.org/abs/2404.15385