Enhancing Diagnosis through AI-driven Analysis of Reflectance Confocal Microscopy

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Yoon, Hong-Jun, Keum, Chris, Witkowski, Alexander, Ludzik, Joanna, Petrie, Tracy, Hanson, Heidi A., Leachman, Sancy A.
Format: Preprint
Publié: 2024
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