Optimal depth and a novel approach to variational quantum process tomography

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Galetsky, Vladlen, Farré, Pol Julià, Ghosh, Soham, Deppe, Christian, Ferrara, Roberto
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Quantum Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2404.16541