Faucher, N., & Blanton, M. R. (2024). Testing the accuracy of SED modeling techniques using the NIHAO-SKIRT-Catalog.
Style de citation Chicago (17e éd.)Faucher, Nicholas, et Michael R. Blanton. Testing the Accuracy of SED Modeling Techniques Using the NIHAO-SKIRT-Catalog. 2024.
Style de citation MLA (9e éd.)Faucher, Nicholas, et Michael R. Blanton. Testing the Accuracy of SED Modeling Techniques Using the NIHAO-SKIRT-Catalog. 2024.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.