Buchumschlag

Backtesting Expected Shortfall: Accounting for both duration and severity with bivariate orthogonal polynomials

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Hué, Sullivan, Hurlin, Christophe, Lu, Yang
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Risk Management 62Pxx
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