Bayesian optimization for stable properties amid processing fluctuations in sputter deposition

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Shrivastava, Ankit, Kalaswad, Matias, Custer, Joyce O., Adams, David P., Najm, Habib N.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science Machine Learning Optimization and Control
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2405.03092