Fine residual stress distribution measurement of steel materials by SOI pixel detector with synchrotron X-rays

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Nishimura, Ryutaro, Kishimoto, Shunji, Sasaki, Toshihiko, Mitsui, Shingo, Shinya, Masayoshi, Arai, Yasuo, Miyoshi, Toshinobu
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Instrumentation and Detectors
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https://arxiv.org/abs/2405.08321