Identity Overlap Between Face Recognition Train/Test Data: Causing Optimistic Bias in Accuracy Measurement

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Wu, Haiyu, Tian, Sicong, Gutierrez, Jacob, Bhatta, Aman, Öztürk, Kağan, Bowyer, Kevin W.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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